NI國家儀器於近日推出NI PXIe-4135電源量測單元(SMU)，提供10 fA的量測靈敏度與高達200V的電壓輸出。透過NI PXI SMU的靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率，工程師可使用該新款SMU量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與IC的特性測試等多種應用。
NI自動化測試總監Luke Schreier表示，半導體裝置越來越複雜，必須重新思考傳統的研究方法、特性測試與穩定度量測，這也正是該公司投資SMU PXI的主要原因。
IMEC研究員Bart De Wachter博士表示，該公司的行內參數測試，必須擷取數百萬個資料點，過程中常會產生數微微安培的洩漏電流。新款SMU可準確量測這些低電流訊號，並同時享有PXI平台的快速除錯與LabVIEW提供的系統設計彈性。
工程師可透過模組化SMU打造體積精巧、平行的多通道數系統，並享有多達68個SMU通道的單一PXI機箱，能夠針對數百個通道，執行晶圓穩定性測試與平行測試。
此外，使用者可善用高速通訊匯流排、精確的硬體序列與數位控制迴路技術，藉此提高測試輸出率，並客製微調任何待測裝置的SMU響應。使用者也可以運用軟體控制SMU響應，不僅可縮短SMU趨穩作業漫長的等待時間，還能藉由軟體的彈性減少過衝與震盪，即使是高電容負載也一樣。
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