測試系統軟硬體兼施 HDMI產線測試一把罩

HDMI與MHL介面的產線測試挑戰有解。由於HDMI傳輸介面支援高解析度視訊與智慧協定,增加裝置測試的複雜度,測試端必須結合HDMI擷取卡與FPGA元件,再搭配套裝的測試軟體,方可達成HDMI和MHL產線端完整的測試要求。
2013 年 02 月 25 日

借力虛擬儀控軟體 手機、平板實現遠端量測/控制

人手一機是必然的趨勢,iPhone、Android手機及其他各種智慧型手機越來越常見。市調機構顧能(Gartner)指出,2011年智慧型手機的全球銷售額已達4.72億美元,較2010年成長58%。
2012 年 12 月 09 日

採用共通開發環境及語言 系統設計與測試一步到位

憑藉共通的開發環境和語言,系統設計與測試整合的目標可望實現。由於過去系統設計與測試使用的工具與程式語言迥異,造成系統開發人員難與測試團隊溝通。如今,已有系統設計工具和軟體可同時運用於開發及測試階段,將有助提升產品開發效率。
2012 年 11 月 12 日

PXI儀器效能升級 802.11ac測試效率大躍進

802.11ac產線測試時間和成本可望大幅縮減。由於新一代PXI模組化儀器內建可靈活編程的FPGA,測試工程師可根據實際量測需求彈性調整儀器配置,不僅能提高測試精準度及效率、加速產品上市,更能進一步節省儀器投資成本。
2012 年 10 月 11 日

實體層規格大翻新 802.11ac傳輸率三級跳

若要提升無線通訊的傳輸率,往往透過下列三種方法,包括更高階次的調變方式、更高的通道頻寬及更多空間串流(Spatial Stream)。當然,無線區域網路(Wireless LAN, WLAN)也不例外。
2012 年 09 月 08 日

整合可編程元件 向量訊號收發器加速RF測試

過去幾10年來,軟體定義的射頻(RF)測試系統架構越來越熱門。現在幾乎每一個商用現成(Commercial Off-the-shelf, COTS)自動化RF測試系統都採用應用軟體,以便透過匯流排介面來銜接儀器。
2012 年 08 月 19 日

擴充處理器有彈性 PXI有效縮短WLAN測試時間

由於業界不斷正降低測試成本,許多射頻(RF)測試工程師須更縮短量測時間,無線區域網路(WLAN)裝置的測試作業亦須迎合此趨勢;不論是設計檢驗的自動化測試系統,或者最後的生產測試作業,測試系統的量測速度都愈趨重要。
2012 年 07 月 22 日

T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試

產品出廠前通常須進行許多不同測試,有的是數位訊號,有的是類比訊號,甚至有射頻(RF)訊號,但以往方式為使用大型的自動化測試系統(ATE),一台ATE幾乎可完成所有的測試,但對於現在低價產品來說,ATE售價昂貴,根本不符合成本需求,所以PXI測試平台便隨之而起;除具備由直流電(DC)、混合訊號至射頻等完整的模組化儀器外,還能快速建構整合測試系統,而要能達到整合同步測試,就需要仰賴T-Clock(TClk)技術。
2012 年 06 月 25 日

SMU軟硬體襄助 晶片電流洩漏測試精準達陣

電流洩漏測試是半導體元件開發的重要環節。設計人員可透過電源量測單元(SMU)提供電壓,來量測元件接腳的漏電流。由於大多數的漏電流在微安培等級以下,因此須選用電流量測解析度達1奈米安培的SMU,並搭配適當測試軟體,才能得到最佳測試結果。
2012 年 04 月 26 日

軟、硬體相互搭配 半導體DC參數檢驗精準到位

由於現今半導體晶片的設計難度不斷提升,並需要更高階的測試系統描述效能特性,因此進一步提高了測試成本。在半導體檢驗當中,一般可分為結構檢驗與功能檢驗等兩個部分。結構測試可確保晶片製程無誤;功能測試則是確認晶片是否符合設計規格,並能於最後的環境中執行作業。本文所列出的硬體元件(表1),可建立結構測試主機,檢驗互補式金屬氧化物半導體(CMOS)晶片上的直流電(DC)參數。
2012 年 03 月 29 日

軟/硬體功能有彈性 模組化儀控擴展ATE應用

若使用傳統式儀控架構,必須把軟體處理與使用者介面固定在儀器上,因此執行傳統儀器外的量測幾乎不可能;模組化儀控提供可調整的硬體、使用者定義的軟體,能符合自動化測試的需求,替用戶實現這個可能。
2012 年 01 月 16 日

開創量測系統新價值 無線/接線式整合系統崛起

無線量測系統已為大勢所趨,然而在無線取代接線式的過渡期間,必須能兼容各類型技術,現今透過LabVIEW開放式軟體平台,將可在既有傳統的量測系統中彈性支援無線測試功能,以符合測試人員更完整的測試要求。
2011 年 10 月 13 日