嚴格把關量產測試流程 高效能類比IC唾手可得

類比IC產品通常已在資料表中明確定義相關參數規格與功能,因而必須針對各個裝置進行完整量測工作。為提升產品可靠性,單純的功能測試或統計測試已無法滿足此一要求,必須同時考量溫度漂移與測試設備的準確度,方能達到最佳品質。
2008 年 10 月 30 日