加入深度記憶體 示波器擷取時間/取樣率大增

選購示波器時,使用者通常依據產品規格來評斷其價值與優劣,而頻寬、取樣率和擷取記憶體深度是其中三個最重要的規格,也是促成使用者決定使用哪一款示波器的關鍵因素。
2013 年 03 月 17 日

掌握FPGA設計細節 核心輔助式除錯加速驗證

【量測實務專欄】   採用FPGA的設計小組,在模擬與原型設計階段間的轉換會變得更順利。FPGA技術具備可程式控制的特性,並能配合規格改變,所以經常是最後才設計的硬體區塊,因此完成設計並在系統中測試該設計,將面臨極大的壓力。由於只有少數的接腳可用來呈現設計內部的能見度,造成除錯大型化,且複雜的FPGA設計可能會產生問題。僅憑直覺而非依賴實際的量測結果,通常只會引發挫折感並使專案進度落後。核心輔助式除錯(Core...
2007 年 04 月 30 日

量測:快速找出設計問題與異常 選對邏輯分析儀大有幫助

逐漸提升的設計精密度造成高效率內部電路驗證工具的更大需求。許多團隊使用舊有的邏輯分析技術,掙扎於其下一代設計的驗證工作。今日邏輯分析儀中...
2005 年 06 月 01 日