R&S於ISAP08研討會展示射頻/微波測試解決方案

2008 年 10 月 22 日

2008年10月27日至30日在臺北國際會議中心的ISAP 2008國際天線與電波傳播研討會暨展示會上,羅德史瓦茲(R&S)將展示其全面領先的射頻和微波測試解決方案。羅德史瓦茲認證型電磁干擾(EMI)測試接收機R&S ESCI、ESU,搭配不同的附件,即可完成積體電路電磁發射測試,R&S ESCI和ESU同時具有接收機和頻譜儀的功能,完全符合標準CISPR16-1-1;展出的R&S ESU同時擁有綜合測試功能以及一整套各種型式的檢波器,包括CISPR-RMS檢波器,射頻掃描型,中頻分析與彈性化的測試報告格式。最高頻率範圍分別可從20Hz到8GHz,26.5GHz與40GHz。
 



在通用量測方面,R&S提供完整的訊號產生器及頻譜分析儀,展出的R&S SMF100A是一部以極高的功率輸出和-115dBc良好單邊帶相位雜訊獲得市場一致好評的微波訊號產生器;其適用於多種長途通信與雷達方面的測試。在位準與頻率設定時間分別僅需4毫秒和3毫秒,毋需外加放大器,便可提供+26dBm的輸出功率,輸出頻率範圍可達22GHz。
 



向量訊號產生器R&S SMU200A可支援現代通訊系統在研究、開發和生產的所有要求,除了整合兩個獨立的訊號產生器到一台設備中,還擁有強大的衰落模擬功能,可以模擬單通道四十徑或者雙通道二十徑的衰落環境,每個路徑均可進行相應參數的設置,如損耗、延時、移動速度、多普勒頻移等。頻譜分析儀R&S FSU67擁有從20Hz到67GHz的連續頻率範圍,可以一次完成諧波測量而無需更改設置,有利於微波元件的研發和生產應用,例如振盪器、52GHz或58GHz頻率範圍的短程微波連接元件、60GHz波段的本地無線傳輸系統,以及航太國防領域。
 



針對晶片的S參數測試,R&S也提供了卓越的解決方案。R&S ZVA/B系列向量網路分析儀在測試速度、動態範圍、靈活性和測試精度上都即為出眾。它的雙源四埠結構可實現多埠測試、平衡測試、混合參數測試以及獨特的真差分測試;多種的校準技術(TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM)大幅提高了測試的靈活性;放大器與晶圓電路測試也需要用到脈衝信號以避免過熱的情況發生。
 



羅德史瓦茲:www.rohde-schwarz.com.tw

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