羅德史瓦茲(R&S)新推出衰減係數1：1的被動探棒RT-ZP1X，再次拓展了R&S示波器的應用範疇。R&S探棒與示波器的前端，僅有極小的雜訊，兩者結合使其成為量測低至1 mV/div極小訊號的理想選擇，如積體電路和元件的電源完整性測試。
現階段許多產業對於電源測試的要求明顯增加，尤其在嵌入式設計領域，開發人員藉由整合愈來愈多的功能模組到極小空間，來降低系統功耗；因此，電源完整性測試在相關應用中是至關重要的。開發人員及工程師需要測量電路中，毫伏特範圍的訊號，進而研究元件的雜訊特性。為了獲得更準確的量測結果，一款具有合適靈敏度、低雜訊的探棒是不可或缺的。
新款R&S RT-ZP1X被動探棒，能夠和R&S RTE系列示波器(頻寬達2GHz)及R&S RTO1000/2000系列示波器(頻寬達4 GHz)精準配合。該探棒搭配R&S RTE系列示波器，提供了電源完整性量測應用中，最佳性價比的解決方案。即使在1MΩ輸入阻抗的情況下，示波器的低雜訊前端，亦可實現低於650 μVpp的背景雜訊 (1mV/div、頻寬200MHz)。而一般示波器僅能在50Ω輸入阻抗下，才能達到相同等級的雜訊值。
藉由高達每秒一百萬次的波形捕獲率，使用者可快速地獲得測量結果，完成長條圖和其他訊號分析。在16位元高解析度的縮放模式下，也可針對最小的訊號細節進行分析與觸發。
