R&S/HiSilicon完成LTE-A載波聚合相容性測試

2014 年 01 月 10 日

羅德史瓦茲(R&S)與HiSilicon聯手成功完成HiSilicon Balong720晶片於3GPP R10 進階長程演進計畫(LTE-A)CAT6的相容性認證測試,全球第一顆CAT6晶片解決方案–HiSilicon Balong720支援兩個元件的載波聚合,其個別下行頻寬為20MHz且資料傳輸路達300Mbit/s。


透過羅德史瓦茲CMW500寬頻無線通訊測試儀的Callbox及通訊協定模式,並搭配後端網路測試(End-to-end)的測試選配,即可進行後端網路測試並滿足LTE-A載波聚合的測試需求;羅德史瓦茲CMW500為業界唯一單機可以在不限制頻寬及頻段的情況下,進行兩個元件或裝置的2×2及4×2多重輸入輸出(MIMO)下行載波聚合測試,此外羅德史瓦茲CMW500亦具備CAT6下行資料傳輸率達300Mbit/s 的量測能量。


雙方聯手完成3GPP R10 LTE-A CAT6的相容性認證測試,將大幅加速整個供應鏈於LTE-A載波聚合功能商轉的進度;至今,LTE-A載波聚合通常以兩個分別具備10MHz頻寬及下行總資料傳輸率為150Mbit/s的元件,透過CAT 6載波聚合技術將使資料傳輸率倍增。


羅德史瓦茲網址:www.rohde-schwarz.com

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