R&S LTE發展與應用研討會4月26日登場

2011 年 04 月 06 日

由於羅德史瓦茲(R&S)包含頻譜功能的訊號分析儀,擁有 LTE 訊號的解調能力,能讓使用者深入分析EVM、Constellation及MIMO等訊號,成為從R&D到產線的推手。而R&S將在4月26日於竹科科技生活館舉辦「LTE發展現況與測試技術應用研討會」,讓業界更加了解LTE的市場現況及RF測試需求。



研討會第一階段會針對訊號產生器和訊號分析儀針對LTE 無線 Physical Layer的量測做詳細介紹。而第二階段會針對 LTE 最新市場資訊及LTE RF測試進行介紹,並利用R&S CMW500測試儀器進行現場Live Demo。



有鑑於一般頻譜分析儀能測量出LTE在 RF 頻譜上的特性,例如Spectrum Emission Mask、Adjacent Channel Power等。自2010年起已經陸續有十幾家LTE系統業者相繼開台,到今年三月底已經有超有180 Network Operators投資LTE的發展,而真正承諾要發展LTE的Operators也已經超過128家。目前美國最大的LTE Operator-Verizon正全力推動LTE市場,目前已經覆蓋全美39個城市及60個機場。各國的LTE終端廠商如果要供應終端產品進入LTE網路,必須經過一系列的測試與驗證。



另外R&S推出針對無線元件產線測試中,可進行連線模式(Signaling Mode)測試的寬頻無線通訊測試儀CMW500,可模擬手機與基地台溝通的連線模式,並執行發射器與接收器的量測。在研發或產線中無論是非連線模式(Non-signaling Mode)或是連線模式(Signaling Mode),都是可被執行的,此研討會中將針對如何使用R&S CMW500涵蓋研發階段時所需要的各項需求並滿足3GPP LTE所定義的測試規範,有關此次研討會報名資訊可瀏覽R&S網站。



羅德史瓦茲網址:www.rohde-schwarz.com.tw

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