太克光學調變分析儀可驅動數位取樣示波器

太克(Tektronix)宣布OM4000系列光學調變分析儀可驅動DSA8300數位取樣示波器,使其提供比即時解決方案還高的垂直解析度,分析PM-QPSK、QAM和其他複雜的調變訊號,降低總系統成本。 ...
2012 年 05 月 18 日

安捷倫光學調變分析儀新增誤碼率分析功能

安捷倫(Agilent)推出在光學調變分析儀中加入誤碼率(BER)功能。在數位傳輸領域中,工程師須深入分析發射器或鏈路之誤碼率,以確保40/100G系統之最佳傳輸品質。然而,目前用於開關鍵控(On-off...
2009 年 10 月 07 日