太克光學模組具高遮蔽測試靈敏度

太克(Tektronix)日前宣布推出為其DSA8300取樣示波器全新的光學模組。此模組具有業界最高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊,並配備了全新功能,可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量。太克同時還推出了其400G測試解決方案的增強功能,包括IEEE乙太網路標準驅動的發射器和分散眼閉鎖(TDECQ)PAM4,以及針對光學測試的相關支援量測。...
2017 年 03 月 31 日