NI半導體測試系統開啟ATE測試新未來

美商國家儀器(NI)將於2014年的國際半導體展(SEMICON Taiwan 2014)發表全新半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS),適用於射頻(RF)和混合式訊號生產測試。 ...
2014 年 09 月 04 日