太克推新參數測試系統 支援寬能隙製造

測試與量測解決方案供應商太克(Tektronix)日前發布了新款Keithley S530系列參數測試系統,以及 KTE 7 軟體和其他增強功能。S530 平台使半導體製造廠能為高速成長的新技術增添參數測試能力,同時有效地降低...
2020 年 10 月 13 日