太克參數分析儀降低特性分析複雜性

太克(Tektronix)宣布推出可自訂且完全整合的Keithley 4200A-SCS參數分析儀,不僅可為新手使用者或偶發性使用者,降低特性分析的複雜性、簡化測試設定,並提供清晰又精確的結果等方式,加速取得對半導體裝置、材料和製程的深入瞭解。 ...
2016 年 08 月 09 日