愛德萬測試將在英特爾科技論壇展示新解決方案

愛德萬測試(Advantest)近日將於8月在舊金山舉辦的英特爾科技論壇(IDF)上展示專為物聯網(IoT)、穿戴裝置等新興科技市場所設計的測試解決方案。包括兩款以愛德萬測試模組化AS平台為架構的記憶體測試系統–T5833/T5831。 ...
2015 年 08 月 07 日