愛德萬新款測試系統支援行動DRAM與NAND記憶體測試

愛德萬推出記憶體測試系統–T5833。新系統支援DRAM與NAND快閃記憶體元件的Wafer Sort及Final Test,可滿足低成本大量測試需求。 愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示,新測試系統既具有較佳效能,又兼顧客戶的低測試成本考量,這兩大優勢將有助於客戶獲致最大投資效益。 ...
2015 年 06 月 25 日