NI將於台北國際光電大展展出LED多點測試機台

美商國家儀器(NI)將於6月19日至21日參加2012年台北國際光電大展,將針對研發驗證到實際產線測試端,所需的各種不同目的與需求,提出相對應的解決方案。展會現場也將同時展出發光二極體(LED)多點測試機台,展現該公司於光電產業的高適用性。 ...
2012 年 06 月 12 日