確保4G語音通訊品質 VoLTE測試動起來

Voice over LTE(VoLTE)隨著長程演進計畫(LTE)的商用逐漸受到重視。由於LTE技術架構最初設計為傳送資料封包,並未如全球行動通訊系統(GSM)以傳送語音為主,因此如何讓LTE的通話品質可媲美GSM系統,已成為LTE商用啟動後的重要課題。 ...
2012 年 05 月 18 日

安立知/Kotura將於OFC展示光傳輸鏈路產品

安立知(Anritsu)MP1800A具備寬帶頻率覆蓋範圍從100M~56Gbit/s的可擴展性和靈活的模組配置特點,並擁有多重同步28G/32G BERT功能,因此Kotura選定MP1800A為2012年美國光纖通訊展覽會(OFC)展示的測試系統。 ...
2012 年 05 月 09 日

升級骨幹網路 電信商擁抱40Gb乙太網

40Gb乙太網路市場年底萌芽。雲端資料中心高速資料傳輸需求,以及行動寬頻技術對於網路後端回程鏈路(Backhaul)傳輸速率要求不斷提升,讓電信業者已開始將目前主流的1GbE與10GbE,轉換為40GbE,預期2013年底至2014年初,40GbE市場將大規模開展。 ...
2012 年 04 月 12 日

率先推出專用測試儀 安立知LTE-Advanced拔頭籌

安立知(Anritsu)領先群雄推出LTE-Advanced測試儀器。藉由較早投入LTE-Advanced規範的研究,以及過去發展行動通訊測試的技術累積,安立知已率先推出LTE-Advanced IP吞吐量測試系統,並計畫於2012年夏天正式問世,進一步鞏固4G市場地位。 ...
2012 年 04 月 03 日

異質網路整合驅動 Sync E/IEEE 1588v2架構興

2012年同步乙太網路(Sync Ethernet)/IEEE1588v2將成電信業者關注焦點。隨著行動寬頻頻寬不斷提高,與之整合的有線網路也須提升傳輸速率才能相得益彰,然而,現有的非同步數位階層(PDH)與同步數位階層(SDH)網路架構頻寬已已逐漸不敷使用,加上成本較高,因此電信級網路已開始轉向乙太網路接取方式的新網路架構。 ...
2012 年 01 月 05 日

安立知發布Cell/Spectrum Master手持分析儀

安立知(Anritsu)推出MT8212E/MT8213E Cell Master與MS2712E/MS2713E Spectrum Master手持分析儀,具備新量測功能和更高整體效能,以因應分時-長程演進計畫(TD-LTE)等4G技術。新量測儀在精小設計中具備優越性能,為服務供應商、網路設備製造商(NEM)及第三方承包商和安裝人員在部署和維護LTE網路時提供一個具成本效益和精準的測試工具。...
2012 年 01 月 05 日

Femtocell添柴薪 頻譜分析儀需求暢旺

頻譜分析儀在3G毫微微型蜂巢式(Femtocell)基地台與行動裝置等新興應用帶動下,明年出貨量可望攀上高峰。為持續擴大3G訊號覆蓋率,全球電信商正積極擴大Femtocell基地台部署,從而推升網通設備廠在Femtocell射頻(RF)測試的需求。 ...
2011 年 12 月 19 日

安立知開發CS Fallback功能測試軟體

安立知(Anritsu)針對該無線通訊綜合測試儀MT8820C開發出新軟體–MX882012C-016,可針對長程演進計畫(LTE)智慧型手機的CS Fallback功能進行測試。 ...
2011 年 10 月 13 日

安立知發布抖動/傳輸分析軟體降低配置成本

安立知(Anritsu)日前發布新開發量測軟體–MX210002A及MX210001A,可降低二分之一配置成本,並讓旗下的MP2100A BERTWave功能擴充,使用於高精密主動式光纜(Active...
2011 年 10 月 12 日

標準/設備互通成觸媒 TD-LTE發展星火燎原

因占用頻譜空間較少的優勢日益突顯,TD-LTE已逐漸趕上FDD-LTE的步伐,再加上中國移動力拱兩大技術標準互通,以及雙模晶片方案與量測設備陸續問世,更加速助長TD-LTE的發展熱潮,預期2012年相關終端設備將會大量問世,形成不容忽視的新勢力。
2011 年 09 月 19 日

安立知高頻技術應用研討會9月22日登場

安立知(Anritsu)將於2011年9月22日假國研院奈米元件實驗室舉行毫微米波(Millimeter Wave)/射頻(RF)高頻技術應用研討會,特邀請安立知市場技術經理Barry Smith及資深產品經理Steve...
2011 年 09 月 07 日

EDA軟實力雄厚 安捷倫LTE量測面面俱到

瞄準長程演進計畫(LTE)產品測試需求,量測業者也秣馬厲兵強化儀器功能,其中安捷倫(Agilent)強打整合電子設計自動化(EDA)工具的一貫化解決方案,特別是藉由獨有的射頻EDA工具與儀器結合,可協助廠商在測試過程中同時優化設計,對晶片、設備業者而言極具。 ...
2011 年 08 月 26 日