晶圓測試需求增 愛德萬拓展MEMS探針卡測試

愛德萬測試(Advantest)即將在台灣擴展微機電(MEMS)探針卡(Probe Card)業務。看好智慧電視、液晶(LCD)面板相關半導體元件發展,2013年愛德萬將開拓機電系統(Mechatronics...
2013 年 01 月 18 日

愛德萬8Gbit/s數位模組支援SoC高速測試

愛德萬測試(Advantest)推出T2000 8Gbit/s數位模組(8GDM),滿足系統單晶片(SoC)裝置各式介面高速測試需求,包括序列式、並行式,以及記憶介面如PCI-Express與雙倍資料傳輸率(DDR)連接等。該公司並將於今年12月5~7日,在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的SEMICON...
2012 年 11 月 29 日