愛德萬響應RE100全球再生能源倡議

半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)加入百分百再生能源倡議(RE100),響應全球企業再生能源計畫,與上百家企業攜手前行,為達到100%使用再生電力而努力。 愛德萬測試在今年四月,將100%零碳排的目標納入公司長程氣候變遷政策之中。為了達成此目標,愛德萬測試計畫加速採用再生能源。RE100倡議從全球角度對抗氣候變遷,透過與其他企業成員合作,進一步運用再生能源,為愛德萬測試的努力帶來加乘效果。
2020 年 08 月 07 日

愛德萬發表IC記憶體測試機 降低5G產品開發成本

愛德萬測試(Advantest)發表多功能H5620ES工程測試系統,針對現今實驗室環境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR裝置進行高速預燒及測試,為H5600記憶體測試機家族再添生力軍。由於精簡配件數量、縮短預燒及測試之間所需的時間,最新H5620ES大幅降低5G應用先進記憶體裝置的測量成本。...
2020 年 07 月 16 日

愛德萬新記憶體測試機瞄準全球DDR/DRAM需求

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest)發表最新多功能、高產能H5620記憶體測試機,能針對低功耗雙存取同步動態隨機存取記憶體(DRAM和LPDDR)裝置進行預燒及記憶體單元測試。 愛德萬測試記憶體自動化測試設備事業群副總Takeo...
2020 年 04 月 23 日

愛德萬將於南韓半導體展秀新IC測試方案

南韓國際半導體展(SEMICON Korea)將於2020年2月5日至7日,假首爾COEX商場盛大登場,半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)將展示最新IC測試解決方案。 愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy...
2020 年 01 月 31 日

愛德萬將於SEMICON展示最新科技

愛德萬測試(Advantest)將於9月18~20日假台北南港展覽館一館(TaiNEX1)盛大登場的「2019年台灣國際半導體展」(SEMICON Taiwan),展示領先業界的科技領導力。在此展覽中,除了透過專屬貴賓室(Hospitality...
2019 年 09 月 11 日

愛德萬測試榮獲Bosch全球供應商獎肯定

愛德萬測試(Advantest)從博世集團(Bosch Group)遍布全世界優秀的技術與服務供應商之中脫穎而出,榮獲該集團頒贈2019年「全球供應商獎」(Global Supplier Award)。愛德萬測試為博世的微機電(MEM)和汽車及消費裝置產品,提供即時快速的半導體測試解決方案,亮眼表現深獲肯定。...
2019 年 08 月 30 日

愛德萬攜MultiLane開發隨插即用高速測試儀器

愛德萬測試(Advantest)宣布與MultiLane攜手合作,開發能擴大V93000平台效能的檢測儀器,以更精省的成本,測試次世代數位高速介面。Multilane的儀器,可提供在四階脈衝振幅調變(PAM4)...
2019 年 07 月 18 日

愛德萬最新T2000模組具備高精度數字轉換器

愛德萬測試(Advantest Corporation)發表最新GPWGD高解析度模組,具備業界最高精度的數字轉換器,能測試嵌於電源管理IC(PMIC)內的高解析度音訊數位類比轉換器(DAC),以及獨立高解析度音訊元件。此模組創新的測試技術,能涵蓋超高動態範圍,從元件特性分析到量產實現前所未有的類比測試精準度,在測試載板上省去複雜設計,也不須要額外測試或測量儀器。...
2019 年 05 月 23 日

愛德萬測試機首次用於中國AIoT量產產品

愛德萬測試為在中國設計和製造的智慧物聯網(AIoT)元件首次量產測試所需,安裝多套V93000 Wave Scale RF 系統。測試機台將用來量測由無晶圓廠恒玄科技(Bestechnic)設計、江蘇長電科技(JCET)江陰廠製造的高度整合藍芽音效系統單晶片(SoC)。而JCET也預計在今年下半年安裝更多V93000...
2019 年 04 月 09 日

愛德萬發表最新光聲顯微鏡Hadatomo Z

半導體測試設備廠商愛德萬測試,日前發表了最新的光聲顯微鏡Hadatomo Z,以非侵入性的方式取得真皮層血管資料後,系統即可快速將血管以3D成像。此套新系統則透過光聲波界定血管網絡構造、結合超音波界定真皮層構造等方式,將血管網絡以3D成像,再以最新設計高解析度的超音波感應器,將影像層疊為高解析度的3D影像出圖。...
2019 年 02 月 22 日

專訪愛德萬機電整合事業處/新產品事業處副總經理蘇勇鴻 高效解決方案克服IoT測試挑戰

物聯網(IoT)是近年半導體產業相當熱門的議題,其應用市場也十分廣泛,舉凡汽車、資料中心、工業、通訊及消費性電子等產業,皆與IoT有所關連。在半導體業者持續提升系統單晶片(SoC)、記憶體、處理器等元件效能,實現更多IoT創新應用之時,也代表新的測試挑戰將接踵而來;因此,如何因應多元、複雜的應用需求,進而提供高穩定性、高效能的測試方案,以提升生產量,是量測儀器業者在IoT世代致力發展的方向。
2019 年 01 月 13 日

愛德萬研發STT-MRAM切換電流測量系統

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試宣布與日本東北大學創新整合電子系統中心(CIES)的合作,本計畫由東北大學電機研究所教授遠藤哲夫主持,成功地研發出高速、高精確度模組,可以測量磁性隨機存取記憶體(STT-MRAM)中記憶束的切換電流,這是眾所期待用於愛德萬測試記憶測試系統的次世代記憶技術,運作速度為微安培/奈米秒。...
2018 年 12 月 14 日