NI展出三大半導體測試解決方案

看準複雜且日新月異的智慧裝置市場,驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求,國家儀器(NI)於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案,分別為可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率RF模組、ATE等級的PXIe-6570數位波形儀器,以及兼具速度與靈敏度的PXIe-4135電源量測單元(SMU)。 ...
2016 年 09 月 14 日