NI發表新一代高密度電源量測單元

國家儀器(NI)近日發表了 PXIe-4163高密度電源量測單元(SMU),其 DC通道密度為上一代NI PXI SMU的 6 倍,適合用來測試 RF、MEMS與混合訊號,以及其他類比半導體元件。 NI...
2018 年 02 月 08 日