宜特科技成立全新高階材料分析實驗室

宜特科技宣布將拓展高階材料分析機台設備,引進穿透式電子顯微鏡(TEM,型號JEOL JEM-2100F)與雙束型聚焦離子束(Dual Beam FIB,型號FEI Helios 600),建立全新高階材料分析實驗室,以因應奈米材料尺寸不斷微縮且半導體產業朝高階製程發展的趨勢。新實驗室預計於6月9日正式營運。...
2010 年 06 月 02 日