落實故障測試及失效定位 IPM可靠性挑戰迎刃解

隨著工業製造水準的提升,智慧功率模組(IPM)的生產技術得已發展迅速,元件的可靠性將是未來研究所面臨的新挑戰。針對國內外近年來在智慧功率模組失效分析相關的主要研究內容,本文綜述了智慧功率模組應用失效的測試方法以及失效定位技術,總結了連續性失效、絕緣性失效、驅動晶片(HVIC)故障、絕緣閘雙極電晶體(IGBT)故障,以及NTC故障的測試方法,並分析了這些元件故障可能的失效原因。最終總結了通過測試方法進行快速IPM失效的故障定位方法。
2019 年 02 月 26 日

IR發表1,200V IGBT降低開關/傳導損耗

全球功率半導體和管理方案供應廠商國際整流器(IR)推出為感應加熱、不斷電系統(UPS)、太陽能和焊接應用而設的可靠及高效1,200伏特絕緣閘雙極電晶體(IGBT)系列。   ...
2011 年 09 月 12 日