愛德萬瞄準NAND Flash/NVM推出新記憶體測試產品

愛德萬測試(Advantest Corporation)宣布旗下記憶體測試產品線再添三大生力軍。新產品瞄準NAND Flash和非揮發性記憶體(NVM)元件而設計,這類元件往往承受須壓低測試成本及測試區的總持有成本(COO)的龐大壓力。新產品包括T5230記憶體晶圓測試解決方案;針對T5851記憶體測試機之STM32G第三代protocol...
2023 年 12 月 19 日

ATE市場潛力十足 愛德萬新推SoC/記憶體測試方案

隨著汽車所需的晶片數量增加,以及IC的複雜度倍增,測試設備的需求持續成長。當晶片的測試複雜度提升,測試時間因此增加,但是IC廠商仍希望盡可能縮短測試時間,這樣的需求為自動測試設備(ATE)供應商帶來挑戰。測試設備廠商愛德萬面對產品測試所需的運算效能提升,推出測試半導體、記憶體與影像感測元件(CIS)的設備。...
2022 年 01 月 10 日

愛德萬測試將舉辦量測系列活動

愛德萬測試(Advantest)近幾年針對物聯網領域中多變複雜的技術特性,持續推出整合性更高的量測解決方案,滿足低階至高階、晶片至系統層級,以及研發端至產線的各種量測需求。 除了完善的V93000平台及相關衍生模組產品(Wave...
2017 年 09 月 05 日