NI將展出智能型自動化測試設備

國家儀器(NI)將於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間,展出專為半導體生產環境而設計的NI半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS),解決現今半導體公司面臨智慧裝置複雜化的挑戰,降低廠商從特性量測到生產製造的系統成本,進而協助半導體業者邁向智能型自動化測試設備(ATE)的階段。 ...
2016 年 09 月 07 日
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