宜特發表高功率高溫工作壽命試驗方案

宜特推出高功率IC壽命模擬測試設備–高溫工作壽命試驗(High Temperature Operating Life Test, HTOL)解決方案,將可協助IC設計公司以更簡易、低成本的方式,執行先進製程的IC可靠度驗證。 ...
2013 年 01 月 10 日