愛德萬測試推新SoC測試系統 因應運算測試挑戰

愛德萬測試(Advantest)針對運算效能達百萬兆級 (Exascale) 的先進數位IC ,發表最新次世代V93000測試機。該系統搭載最新測試頭,結合Xtreme Link科技及EXA Scale通用數位和電源供應卡,不僅能支援最新測試方法,更能降低測試成本、縮短產品上市時程。...
2020 年 09 月 28 日

應用範圍擴展/效能指標躍進 5G測試/驗證十八般武藝齊備

5G技術規格與4G LTE相較,產品測試驗證帶來諸多挑戰,如量測不確定性、測試計畫複雜、測試時間延長、測試成本大增等;5G技術與產品驗證涵蓋的範圍廣泛,本文從晶片設計測試、半導體測試設備、訊號測試儀器等面向進行探討。
2020 年 02 月 17 日

商業化應用全面開展 致茂力推5G應用量測方案

5G商轉如火如荼,5G服務與相關通訊設備已陸續出現在市場上,大舉推出的時間點預計將落在2020年,屆時不僅網路建設將大規模開展,支援5G的各種終端應用產品也將進軍市場。使得5G相關產品製造商將面臨截然不同的挑戰,如何大幅提升產品測試的效率,以趕上緊湊的產品上市時程計畫,將是5G供應鏈廠商必須克服的問題。...
2019 年 11 月 20 日

東芝推出小封裝電壓驅動型光繼電器

東芝電子元件及儲存裝置株式會社(東芝)推出新款電壓驅動型光繼電器-TLP3407SR,提供更低功耗和業界最小封裝尺寸。TLP3407SR在電壓輸入時具有1毫安培的最大LED極限電流,約為上一代TLP3407SRH的三分之一。...
2019 年 10 月 22 日

異質整合趨勢起 系統級測試需求增

異質整合(HIDAS)成為IC晶片的創新動能,然而,將兩種不同製程、功能的IC整合在一起,不僅考驗IC設計、製造和封裝技術,在測試端也衍伸了全新的挑戰,不再只是單純測試IC規格,「系統級測試(System...
2019 年 09 月 02 日

NI搶食半導體測試商機 SystemLink大力助攻

美商國家儀器(NI)近年來大力推動組織跟業務調整,希望在新的測試領域找到未來的成長動能,半導體測試則是備受該公司重視的新垂直市場之一。也因為如此,NI近期針對半導體測試設備所需的軟硬體,頻頻推出新的解決方案。...
2019 年 06 月 27 日

搶攻半導體/汽車/航太測試商機 NI結盟力推專用測試機台

以通用儀器和測試控制軟體LabVIEW為核心事業的國家儀器(NI),為了追求營收更上層樓的機會,開始將觸角伸向專用自動化測試機台市場,半導體測試、汽車電子測試與航太國防測試,是NI寄予厚望的三大市場。
2019 年 06 月 24 日

愛德萬丸山利雄榮獲SEMI行銷卓越獎

愛德萬測試宣布,其資深執行顧問丸山利雄(Toshio Maruyama),榮獲2017年國際半導體設備與材料產業協會(SEMI)銷售與行銷卓越獎。SEMI銷售與行銷卓越獎於2000年成立,目的是為了肯定業界有志之士,他們所創造及/或推行的行銷方案不僅改善客戶滿意度,更有助半導體設備與材料產業的發展。 ...
2016 年 12 月 29 日

ADI MEMS開關技術突破繼電器侷限

亞德諾半導體(ADI)宣布在開關技術領域取得一項重大突破,提供用戶期盼已久的替代產品,以取代100多年前,即被電子產業採用的機電式繼電器設計。由繼電器導致的多種性能侷限,早在電報機問世之初就已存在,全新的RF-MEMS開關技術解決了此類侷限,從而能夠開發出更快速、小巧、節能、可靠的儀器設備。 ...
2016 年 11 月 17 日

NI展出三大半導體測試解決方案

看準複雜且日新月異的智慧裝置市場,驅動半導體設備商對多重測試的強勁需求,國家儀器(NI)於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案,分別為可搭配半導體測試系統(STS)使用的高功率RF模組、ATE等級的PXIe-6570數位波形儀器,以及兼具速度與靈敏度的PXIe-4135電源量測單元(SMU)。 ...
2016 年 09 月 14 日

NI加強STS全新RF量測效能

NI發表半導體測試系統(STS)的全新RF功能,包含高功率傳輸與接收、FPGA架構的Real-Time封包追蹤,以及數位預失真。高功率RF埠是STS改良規劃中最新的項目之一,能夠幫助RF前端模組製造商,滿足RFIC與其他智慧型裝置的多重測試需求,同時有助於降低成本。 ...
2016 年 09 月 09 日

NI將展出智能型自動化測試設備

國家儀器(NI)將於9月7日到9月9日2016 SEMICON Taiwan期間,展出專為半導體生產環境而設計的NI半導體測試系統(Semiconductor Test System, STS),解決現今半導體公司面臨智慧裝置複雜化的挑戰,降低廠商從特性量測到生產製造的系統成本,進而協助半導體業者邁向智能型自動化測試設備(ATE)的階段。 ...
2016 年 09 月 07 日