NI與Astronics攜手打造航太與國防測試系統

國家儀器(NI)與Astronics Test Systems, Inc.宣布將攜手打造PXI架構的航太與國防產品。結合雙方技術優勢，預期預期可打造出同級較佳，適合自動化測試設備(ATE)應用的系列產品。 ...
2015 年 12 月 24 日

NI與Astronics 攜手開創航太與國防測試系統

國家儀器(NI)與 Astronics Corporation全資子公司Astronics Test Systems宣布將攜手打造PXI架構的航太與國防產品，結合雙方技術，預期將可打造出同級較佳，且適合自動化測試設備(ATE)應用的系列產品。 ...
2015 年 11 月 30 日

安立知ShockLine VNA新增USB自動校準元件

安立知(Anritsu)為其向量網路分析儀(VNA) ShockLine系列推出SmartCal雙埠8.5 GHz自動校準元件–MN25208A。SmartCal係一隨插即用(Plug-and-Play)校準元件，可透過USB連接自動開啟，並從晶片上的記憶體加載校準係數，以執行更快速的設定和無誤差校準。 ...
2015 年 04 月 24 日

NI趨勢觀察報告深入探索物聯網影響與衝擊

國家儀器(NI)近日發表2015年NI趨勢觀察報告。該年度報告探討許多議題，包含物聯網、工業化和自造者運動的成長衝擊。 NI全球業務與行銷執行副總Eric Starkloff表示，NI深知未來的系統會採用目前仍未出現的架構與技術，因此透過研究這些趨勢，能讓NI更快提供高彈性的靈活平台，藉此整合全新的技術，協助客戶根據個人需求打造出理想的系統。 ...
2015 年 02 月 03 日

MEMS麥克風出貨旺　PXI儀器商搶搭測試商機

MEMS麥克風測試商機爆發。隨著行動裝置、車載資通訊和穿戴式電子擴大導入語音控制功能，MEMS麥克風出貨量正快速翻升，帶動新一波元件測試商機，激勵儀器商加碼研發PXI模組化半導體測試儀器，以滿足與日俱增的MEMS麥克風測試需求。 ...
2014 年 08 月 20 日

專訪美商國家儀器資深銷售副總裁Pete Zogas　PXI儀器躍居半導體測試標準平台

PXI架構儀器將逐漸成為半導體測試的主流平台。值此系統單晶片(SoC)與SOM(System on Module)方興未艾之際，傳統高階自動測試設備(ATE)正面臨要迅速增添更多功能在單一機台的挑戰，遂讓更具功能設計彈性的PXI模組化儀器有機會在半導體測試市場嶄露頭角，從輔助晉升為核心測試儀器方案。
2014 年 08 月 07 日

配角變主角　PXI儀器躍居半導體測試標準平台

PXI架構儀器將逐漸成為半導體測試的主流平台。值此系統單晶片(SoC)與SOM(System on Module)方興未艾之際，傳統高階自動測試設備(ATE)正面臨要迅速增添更多功能在單一機台的挑戰，遂讓更具功能設計彈性的PXI模組化儀器有機會在半導體測試市場嶄露頭角，從輔助晉升為核心測試儀器方案。 ...
2014 年 07 月 18 日

升級PCIe 2.0介面　PXI網路分析儀測試快又省

美商國家儀器(NI)率先推出採用PCI Express(PCIe)2.0版本介面的PXI模組化網路分析儀(VNA)，無論成本與傳輸速度皆較傳統箱型式方案更勝一籌，有助提升高頻電路IC與印刷電路板(PCB)等應用的測試效率。 ...
2013 年 09 月 10 日

新架構助力　高功率電源供應器測試快又安全

高功率電源供應器測試速度將大幅提升。著眼於高功率電源供應器測試程序複雜，安捷倫(Agilent)已率先業界發布採用VersaPower架構開發的高功率電源供應器，可借助軟體程式無縫切換負載(E-load)和直流(DC)電源，以迎合自動化測試設備(ATE)對更快測試速度的要求。 ...
2013 年 09 月 06 日

擴張RF測試版圖　NI著手研發PXI高速示波器

PXI模組化儀器商正大舉在射頻(RF)測試儀器市場攻城掠地。瞄準射頻功率放大器(PA)、射頻開關(Switch)等半導體元件的測試商機，PXI模組化儀器商正憑藉低成本、高可靠度及高擴充彈性優勢，迅速瓜分傳統自動化測試設備(ATE)過去在射頻半導體元件測試的市占。 ...
2013 年 05 月 28 日

凌力爾特精準運算放大器適於高增益應用

凌力爾特(Linear Technology)發表一款精準運算放大器–LTC6090，可操作於達140伏特(V)(或±70V)的供應電壓。   LTC6090結合軌對軌輸出、3皮安培(pA)(典型值)輸入偏置電流、1.6毫伏特(mV)最大輸入補償電壓及3.5µVP-P低頻雜訊，可提供高效能自動化測試系統(ATE)、壓電驅動器及數位類比轉換器(DAC)緩衝應用所需的精準度。強化的19V/微秒(µs)斜率使輸出可於低於8µs達到140V擺幅；增益頻寬乘積則為10MHz。 ...
2013 年 02 月 02 日

SoC製程/封裝革新　半導體測試商機再掀高潮

半導體測試需求將衝上新高峰。因應行動裝置高效能、輕薄設計趨勢，半導體業者正加碼競逐28奈米(nm)先進製程、立體堆疊系統單晶片(SoC)，以及高整合度射頻(RF)或無線區域網路(Wi-Fi)模組，從而激發新一波自動化測試設備(ATE)需求，將為半導體測試方案供應商帶來更多商機。 ...
2012 年 11 月 21 日
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