前十大半導體設備商揭曉 ASML/泰瑞達最嗆

拜記憶體製造商與晶圓廠加碼擴產之賜,2010年全球半導體資本設備支出金額較2009年劇增143%,其中,先進製程演進和晶片多功能整合趨勢更促使微影(Lithography)與自動化測試設備(ATE)重要性顯著攀升,讓艾司摩爾(ASML)與泰瑞達(Teradyne)2010年營收分別創下高達219%與209%的增長幅度,成為2010年前十大半導體設備供應商中,成長最亮眼的業者。 ...
2011 年 04 月 07 日

筑波科技推Giga-tronics寬頻微波功率放大器

筑波科技推出Giga-tronics最新兩款屬於儀器等級的寬頻微波功率放大儀器GT-1020A和GT-1040A,其範圍分別在100M~20GHz與10M~40GHz,有平坦頻率響應,低雜訊係數和低諧波。設計採用寬頻MMIC技術,在20...
2011 年 03 月 08 日

太克科技新示波器平台提升嵌入式應用效能

太克科技(Tektronix)日前推出擴大示波器產品優惠方案,推出全新的 MSO/DPO5000系列混合訊號示波器平台。太克科技同時推出革命性的新型TPP1000和TPP0500探棒,此款高頻寬、低電容被動式電壓探棒具有突破性的效能,新型儀器及探棒兩者完美搭配,可為嵌入式系統設計工程師提供無與倫比的效能及分析工具,在複合式元件、系統層的除錯和驗證工作上,極具競爭力。 ...
2010 年 12 月 10 日

挑戰ATE龍頭 惠瑞捷/LTX-Credenc合併

為加速擴大市場占有率,惠瑞捷(Verigy)日前宣布購併LTX-Credence,期結合雙方高度互補的產品、市場、客戶與銷售管道,進一步擴大產品組合與市場版圖,並突破泰瑞達(Teradyne)及愛德萬(Advantest)防線,順利登上半導體自動化測試設備(ATE)市場龍頭寶座。 ...
2010 年 11 月 29 日

簡化半導體測試作業 PXI模組小兵立大功

半導體製程技術日新月異,對於測試系統速度、成本與彈性要求更加嚴苛,遂使PXI模組化儀器應運而生,其透過簡化半導體測試系統,同時兼顧成本與效能,在半導體測試產業界已蔚為風潮。
2010 年 10 月 28 日

凌力爾特I2C DAC可達±4LSB INL

凌力爾特(Linear Technology)日前發表四組電壓輸出、16及12位元數位類比轉換器(DAC)系列LTC2655,其具備內部參考及I2C介面,可於整個溫度範圍內達到±4LSB積分非線性(INL)的16位元效能,是同級產品的四倍。 ...
2010 年 08 月 09 日

專訪惠瑞捷策略行銷副總裁Mark Allison

隨著半導體元件缺貨聲四起,2010年各家半導體自動測試設備(ATE)供應商幾乎都大發利市,甚至有市場研究機構樂觀預期,以測試系統單晶片(SoC)為主的邏輯測試ATE市場將可望比2009年成長120%。然而,相較於邏輯測試市場需求強勁,記憶體測試市場卻不見太大起色。在記憶體測試市場中尋找新機會,遂成為ATE廠商的當務之急。
2010 年 08 月 02 日

射頻/半導體測試打前鋒 PXI儀器改朝換代

泛用於自動化測試、工業控制等領域的PXI儀器,隨著個人電腦(PC)所採用的主流介面已進入PCIe Gen2時代,也已開始朝向PXI Express升級。由於介面頻寬突飛猛進,使這類量測儀器已具備取代示波器、頻譜分析儀甚至半導體測試設備等高單價儀器的能力,更吸引相關儀器供應商開始加碼布局PXI...
2010 年 07 月 20 日

與ATE業者攜手 NI PXI專攻半導體測試

有鑑於晶片功能複雜,導致IC驗證與測試難度提高,加上半導體測試成本居高不下,美商國家儀器(NI)力推PXI,強調透過此模組化儀器可加快測試時間,有效降低測試成本,該公司目前已與眾多IC、封測廠商及自動化測試設備(ATE)業者進行合作。 ...
2010 年 03 月 25 日

測試設備需求回溫 惠瑞捷多角化搶市

近來隨著景氣陸續回溫,各大半導體業者紛紛調高資本支出預算,終於讓半導體相關設備業者稍有喘息空間。然此刻也是檢驗業者先前產品與經營策略是否正確的關鍵期,曾在2009年將觸角延伸至低階自動測試設備(ATE)與晶圓探針卡(Probing...
2010 年 01 月 28 日

TI八通道高壓雙極DAC滿足低功耗應用

德州儀器(TI)推出六款最新數位類比轉換器(DAC),可提供12、14及16位元版本,並採用串列周邊介面(SPI)或平行介面。八通道DAC87x8系列在正常模式下一般的功耗為每通道14.8毫瓦,而在節能模式(Power-down...
2009 年 12 月 22 日

DDR3居主流 測試方案性價比壓力沉重

雖然第三代雙倍資料率(DDR3)記憶體成為2010年市場主流的態勢已經確立,但各家記憶體製造商的資本支出依然十分保守,無力大手筆添購新一代測試機台。晶圓測試探針卡與自動測試設備(ATE)之間長期以來既合作又競爭的矛盾,也將隨著時序進入2010年持續深化。 ...
2009 年 12 月 10 日