是德新量測軟體支援晶圓級元件特性分析

是德(Keysight)日前發表量測軟體平台–WaferPro Express 2015。新軟體可在晶片級量測系統中,有效控制所有元件,降低量測配置複雜性,並提供結合自動量測和資料管理的統一平台,期協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。 ...
2015 年 05 月 14 日