太克新參數測試系統軟體加速半導體晶片生產

5G的出現和物聯網(IoT) 的成長推動了全球對半導體的需求,如欲解決全球晶片短缺的現象,不僅需要提升製造量,還需快速地測試正在開發的新晶片。太克(Tektronix)發布適用於Keithley S530系列參數測試系統的KTE...
2021 年 09 月 30 日