ATE市場潛力十足 愛德萬新推SoC/記憶體測試方案

隨著汽車所需的晶片數量增加,以及IC的複雜度倍增,測試設備的需求持續成長。當晶片的測試複雜度提升,測試時間因此增加,但是IC廠商仍希望盡可能縮短測試時間,這樣的需求為自動測試設備(ATE)供應商帶來挑戰。測試設備廠商愛德萬面對產品測試所需的運算效能提升,推出測試半導體、記憶體與影像感測元件(CIS)的設備。...
2022 年 01 月 10 日