堆疊式CIS故障分析 多管齊下解決CIS異常

CMOS影像感測器(CMOS Image Sensor, CIS)技術的發展,來自於人們對攝影鏡頭解析度/畫素需求增加。CIS產品能夠從早期數十萬像素,一路朝億級像素邁進,有賴於摩爾定律(Moore’s...
2023 年 03 月 16 日

發掘製程可疑缺陷 IC切片把關樣品功能性測試

IC設計後,在進行後續的樣品功能性測試、可靠度測試(Reliability Test)或故障分析除錯(Failure Analysis & Debug)前,必須針對待測樣品做樣品製備前處理(Sample...
2022 年 09 月 26 日