iST集團建構MEMS G-Sensor標準失效分析流程

在先端科技的蓬勃發展下,微機電系統(MEMS)元件已成為智慧產品的主要核心。為降低企業投入MEMS開發時,會有分析技術難以找出MEMS真正失效原因,iST集團-台灣宜特宣布成功建構出MEMS G-Sensor的標準失效分析流程。此流程亦被許多公司實際採用,目前全台開發MEMS...
2013 年 10 月 22 日