宜特針對落下/衝擊試驗能量進行升級

宜特針對落下/衝擊試驗能量進行升級,符合國際手機大廠最高規格要求,G值(重力加速度)達10,000G。 宜特可靠度工程處處長曾劭鈞表示,手持裝置為容納更多功能,積體電路(IC)元件尺寸越做越小;然而,以往各供應鏈廠商遵循的聯合電子裝置工程協會(JEDEC)落下實驗條件,並無法有效驗證微小化元件的焊點可靠度,當然亦不能滿足各大廠的嚴苛定義。為解決此問題,提高測試的衝擊力道(High...
2014 年 04 月 22 日