太克新參數測試系統軟體加速晶片製造流程

5G的出現和物聯網(IoT)的成長推動了全球對半導體的需求,如欲解決全球晶片短缺的現象,不僅需要提升製造量,還需快速地測試正在開發的新晶片。太克科技(Tektronix)發布適用於Keithley S530系列參數測試系統的KTEV7.1軟體,協助全球市場加速半導體晶片的製造流程,KTEV7.1版本提供的新選項,包括全新的平行測試功能,和高壓電容測試選項,適用於新興電源和寬能隙應用。...
2021 年 10 月 20 日