東麗工程MI首創大型玻璃基板檢測設備實現雙面/內部缺陷檢測

東麗工程先端半導體MI科技株式會社(東麗工程MI)這次在光學式外觀檢測設備INSPECTRA系列中,新開發了一款以高效率製造先進半導體的技術而備受注目的玻璃基板用檢測設備,並將於2025年3月起開始銷售。...
2025 年 03 月 10 日