宜特TEM材料分析技術突破10奈米

宜特科技(iST)材料分析檢測技術已突破10奈米製程。該技術不僅協助客戶在先進製程產品上完成TEM分析與驗證,更獲積體電路失效分析論壇(IPFA)肯定,並於會議期間發表最新研究成果。 ...
2015 年 07 月 16 日

iST集團研發成果再添佳績

iST宣布台灣宜特總部與子公司上海宜碩,從全球個中好手脫穎而出,高達三篇研究成果,獲選進入2013年積體電路失效分析論壇(IPFA)發表研究成果。 IPFA為IEEE於1985年成立,至今已發展為世界舉足輕重的可靠性與失效分析會議組織。今年,第20屆IPFA國際會議,將於7月15~-19日大陸蘇州舉行,宜特將在此會議中,以IC質量為主軸,分別探討「3DIC微凸塊失效觀察」、「IC電磁輻射消除」與「EOS脈衝波過電保護」三方面。 ...
2013 年 05 月 21 日