是德低頻雜訊量測系統獲中國賽寶實驗室採用

是德科技(Keysight Technologies)日前宣布中國賽寶實驗室(CEPREI Laboratory)採用Keysight EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀(A-LFNA)進行閃變雜訊(1/f雜訊)和隨機電報雜訊(RTN)的量測與分析,以增進半導體元件(包括MOSFET、HEMT和TFT等)可靠性研究。 ...
2016 年 03 月 04 日