NI於7月20日舉辦LED先進測試技術研討會

美商國家儀器(NI)與順英科技將針對現今最熱門的發光二極體(LED)測試技術舉辦研討會,介紹最新PXI技術如何應用於LED光電多點測試,以達到LED最佳測試效能。該會將於7月20日在新竹科學園區科技生活館201室舉行。美商國家儀器竭誠歡迎各相關領域的專家學者一同與會,一起為LED的先進技術共同努力。 ...
2011 年 07 月 08 日