優化熱量管理/電感量測效率 VCSEL光脈衝測試精準到位

在半導體晶圓、陣列和晶片載體生產階段測試垂直共振腔面射型雷射(VCSEL)時,熱量管理是非常關鍵的要素。因此,測試時一般會使用脈衝式測試,以使功耗達到最小。然而,在對VCSEL或雷射二極體進行脈衝測試時,仍會存在多種錯誤來源,包括將高電流脈衝耦合到待測裝置(DUT)、光偵測器耦合、偵測器本身回應慢和準確度差等問題。本文介紹了與這些問題有關的解決方案,這些方案可縮短測試次數,提高結果準確度並降低廢品率。
2020 年 09 月 03 日