衝刺前段測試市場 愛德萬晶圓檢測新利器上陣

愛德萬測試(Advantest)積極拓展新市場版圖。看好20奈米以下先進製程對晶圓檢測設備的需求,愛德萬測試推出全新多視角掃描式電子顯微鏡(MVM-SEM),期挾更高精準度與吞吐量(Throughput)的效能表現,滿足晶圓廠日益嚴苛的晶圓檢測要求,進而將業務觸角由原本半導體製程後段測試的領域,擴張至前段市場。 ...
2015 年 09 月 03 日