NI引進ATE數位功能至開放式PXI平台

國家儀器(NI)近期推出NI PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor。此產品藉由引進數位測試範例,至半導體測試系統(STS)採用的開放式PXI平台中,讓RFIC、電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC的製造商,不再受限於傳統半導體自動化測試設備(ATE)的封閉架構。 ...
2016 年 08 月 19 日