安捷倫雜訊分析儀可量測閃爍雜訊及RTN

安捷倫(Agilent)推出EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀。這套結合硬體和軟體的下一代雜訊分析系統,可量測並分析閃爍雜訊(Flicker Noise)和隨機電報雜訊(RTN)。 ...
2014 年 04 月 08 日