ST攜手MACOM開發RF GaN-on-Si原型晶片

意法半導體(ST)和電信/工業/國防和資料中心半導體解決方案供應商MACOM宣布,已成功製造出射頻矽基氮化鎵(RF GaN-on-Si)原型晶片,意法半導體與MACOM將繼續合作,並加強雙方的合作關係。...
2022 年 06 月 15 日

DOCSIS 4.0上行/下行全面優化 GaN升級纜線數據機放大器

由於標準和法規不斷快速變化,若要在有線電視市場維持地位可能是一項挑戰。全球混合光纖同軸(HFC)網路已升級至帶有中分頻(Mid-split)或高分頻的有線電纜資料服務介面規範DOCSIS 3.1,以提高上行和下行流量的資料傳輸速度和容量。同時,提倡開發和優化元件的下一代DOCSIS...
2022 年 01 月 27 日

兼顧波形/膝電壓/電晶體導通 射頻放大器力保偏壓電路效率

在任何基本教學中介紹放大器時,往往是假設為使用理想電晶體。它們的特性包括線性轉導,也就是漏極至源極電流(Ids)隨閘極至源極間電壓(Vgs)的線性變化,當達到臨界電壓Vt時發生夾止點出現的極限情況,或在達到Imax飽和時,展現出強烈的非線性或突變性(圖1)。
2021 年 12 月 16 日

高覆蓋/輕巧/低功耗 eFEM主攻通訊傳輸應用

在Wi-Fi無線射頻的架構下,有三個主要的關鍵零組件決定了Wi-Fi系統的效能,它們分別是Wi-Fi射頻主晶片(Wi-Fi Chipset)、前端射頻零組件如功率放大器、低噪放大器、開關或模組(PA/LNA/Switch...
2020 年 07 月 04 日

模擬/測試工具雙出擊 5G射頻系統設計再簡化

在相關標準陸續底定之後,5G將在2019年迎接新一波發展高峰。不過,要實現5G應用,首先須先克服射頻系統與天線設計的技術挑戰,為此,產官學各界皆致力投入相關研發工作。
2019 年 02 月 19 日

5G市場一觸即發 2023年RF產值衝破300億

5G時代即將來臨,電信設備業者、晶片大廠以及手技製造商紛紛展開技術研發,以因應下世代通訊發展。過去幾年LTE技術持續發展,帶動行動裝置的射頻前端(RF front-end, RFFE)模組市場成長。而5G...
2018 年 07 月 26 日

NI/NanoSemi合作提升5G測試效能

國家儀器(NI)近日NI發表與NanoSemi的合作計畫,共同開發進階的5G測試功能。5GNR網路佈署技術規格極具挑戰性,隨著佈署作業,以新技術驗證與提升RF效能的需求也隨之出現。5GRF功率放大器(PA)與前端模組,FEM開發人員常面臨的難題,就是必須在裝置線性度、輸出功率與效率之間進行權衡。為了因應5G技術在頻寬與效率方面漸增的需求,工程師需要採用更為精密複雜的線性化技術。...
2018 年 07 月 03 日

是德推出多合一通用型PA測試軟體套件

是德科技(Keysight Technologies)宣布推出N7614B Signal Studio for Power Amplifier測試軟體套件,支援波峰因數縮減(CFR)、封包追蹤(ET)以及數位預失真(DPD)等多項技術。 ...
2014 年 09 月 12 日

安捷倫推出RF PA製造測試參考解決方案

安捷倫(Agilent)推出射頻(RF)功率放大器(PA)製造測試全新參考解決方案,可提供建構電子測試系統所需的重要組成元件,包含硬體、軟體和專業量測技術。 台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示,每一家功率放大器製造商的測試要求都不盡相同,但共同目標都是開發出可讓元件更快上線生產的測試系統。專為RF...
2014 年 05 月 02 日

延伸LTE手機續航力 聯發科聚焦封包追蹤技術

聯發科正全力研發封包追蹤(Envelope Tracking)技術。瞄準中國大陸長程演進計畫(LTE)市場商機,聯發科除宣布將於年底推出四核與八核應用處理器,以及LTE基頻處理器外,也積極與第三方合作夥伴共同研發封包追蹤技術,以降低LTE手機射頻前端系統功耗,延長電池使用壽命。
2013 年 11 月 18 日

CMOS製程發功 Wi-Fi射頻前端整合度再躍升

RFaxis近日宣布開始量產業界首款無線區域網路(Wi-Fi)與藍牙(Bluetooth)組合式射頻前端(RF Front-end)晶片–RFX8422S;該元件利用互補式金屬氧化物半導體(CMOS)製程,將Wi-Fi與藍牙整合於單一裸晶(Single...
2013 年 08 月 29 日

擴張RF測試版圖 NI著手研發PXI高速示波器

PXI模組化儀器商正大舉在射頻(RF)測試儀器市場攻城掠地。瞄準射頻功率放大器(PA)、射頻開關(Switch)等半導體元件的測試商機,PXI模組化儀器商正憑藉低成本、高可靠度及高擴充彈性優勢,迅速瓜分傳統自動化測試設備(ATE)過去在射頻半導體元件測試的市占。 ...
2013 年 05 月 28 日