蔡司Crossbeam Laser FIB-SEM加速半導體封裝失效分析

蔡司(ZEISS)日前宣布推出蔡司Crossbeam Laser,專為指定區域使用的聚焦離子束掃描式電子顯微鏡(FIB-SEM)全新系列解決方案,可大幅提升先進半導體封裝失效分析及製程優化的速度。蔡司Crossbeam...
2020 年 02 月 25 日

網路流量步步高 Nokia PSE效能再升級

從社群媒體、高畫質影音以及AR/VR體驗,到物聯網(IoT)與AI相關應用,都需要足夠的網路頻寬來確保其服務品質。而這些領域的蓬勃發展,也意味著網路流量將與日俱增。未來幾年,各項終端應用搭配無線技術的發展速度持續提升,也進一步帶動網路基礎建設有線傳輸的頻寬需求,往下個世代的400G頻寬邁進。...
2018 年 06 月 04 日

UL/安立知聯合推出商用LTE-A 3CA測試實驗室

UL與安立知(Anritsu)先進長程演進計畫(LTE-Advanced)電信測試設備供應協議,打造全球首座獨立的商用LTE-Advanced三頻載波聚合(3CA)一致性測試機構。 ...
2015 年 03 月 17 日