物聯網創造多元化SoC測試需求 模組式機台有效降成本

智慧型手機能夠大幅普及,與其多功能整合的特色密不可分,而智慧家庭、智慧城市、車聯網等各種物聯網應用,對多功能整合的需求也同樣存在。但由於物聯網應用型態十分多元,連帶使得晶片測試的需求變得更加五花八門。為了節省晶片測試成本,半導體測試設備如今也開始強調多功能整合,運用替換模組的方式,直接在單一機台上進行多種測試,為半導體廠商省下可觀的機台成本。...
2017 年 09 月 04 日

技術演進一日千里 開放平台問鼎傳統半導體ATE市場

國家儀器(NI)持續強化半導體測試布局,其開放平台解決方案正高舉經濟實惠、靈活彈性以及性能不遜於傳統自動測試設備(ATE)等賣點,步步向半導體測試設備市場發動攻勢。 NI射頻&無線測試行銷部資深經理Raajit...
2016 年 09 月 07 日