Qorvo購併GreenPeak 擴增物聯網RF產品陣容

行動、基礎建設與國防應用RF解決方案的供應商Qorvo日前宣布,該公司已與超低功率、短距RF通訊技術晶片開發商GreenPeak簽署最終收購協議。收購GreenPeak後,將使Qorvo得以擴展其提供給客戶的產品組合,新增高度整合的RF解決方案和系統單晶片(SoC),可用於聯網家庭並促進物聯網快速發展。 ...
2016 年 04 月 20 日

是德科技推出新版ADS軟體

是德科技(Keysight Technologies)日前推出新版先進設計系統(ADS)軟體–ADS 2016,以提升工程師的設計生產力,並以較佳效能加速執行電路與電磁模擬。據了解,該軟體提供新的射頻(RF)印刷電路板、基板、模組及矽RFIC產品,以及技術、功能及其他強化特性。 ...
2016 年 02 月 26 日

提升相位雜訊/頻譜分析效率 R&S新款高/低階儀器齊發

羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz)近期推出新一代的相位雜訊測試儀FSWP,以及手持式頻譜分析儀FPH。前者提供使用者快速執行脈衝源量測與射頻(RF)元件殘留相位雜訊量測;後者則是針對有成本考量的客戶群所推出的手持式頻譜分析儀,其可透過軟體升級,從原本的2GHz升級到3GHz或是4GHz。 ...
2015 年 12 月 25 日

Ampleon積極拓展射頻電源版圖

Ampleon公司宣佈,北京建廣資產有限公司成功收購恩智浦半導體的RF電源業務之後,建立了Ampleon公司全球業務運作。該公司即日起負責全部的射頻(RF)電源業務活動,包括LDMOS和GaN RF電源產品的銷售和支援。 ...
2015 年 12 月 14 日

安立知整合式訊號衰減模擬器支援4x4/8x2 MIMO衰減測試

安立知(Anritsu)宣布為旗下4G LTE-Advanced(LTE-A)訊令測試儀–MD8430A推出整合通道衰減模擬功能,新增的數位基頻衰減選項使該測試儀成為一款全功能的衰減模擬器,並支援業界標準3GPP定義的衰弱訊號規格。 ...
2015 年 10 月 27 日

亞德諾射頻設計工具支援訊泰微波產品

亞德諾半導體(ADI)宣布射頻(RF)設計工具新版本,目前已支援訊泰微波(Hittite Microwave)的產品。亞德諾的ADIsimRF設計工具能讓工程師運用來自ADI RF IC產品組合元件建立射頻和微波訊號鏈模型。該設計工具1.9版增加了一百九十個混頻器、放大器、開關和衰減器,主要來自Hittite的產品組合。 ...
2015 年 08 月 07 日

R&S廣播測試系統獲泰國NBTC選用

羅德史瓦茲(R&S)BTC RF自動化測試系統與StreamSpark PSI/SI測試套件於日前完成整合,成為DVB-T2 STB與數位電視(DTV)一致性測試應用解決方案。 ...
2015 年 07 月 17 日

安立知新一代向量網路分析儀兼顧性能與成本

安立知(Anritsu)推出ShockLine MS46500B系列,為ShockLine系列向量網路分析儀(VNA)系列產品再添陣容。新系列具較高價值和性能,可提供較佳的動態範圍及較大輸出功率,不僅降低8.5GHz的多種測試應用之測試成本,亦加速上市時間,包括設計及製造行動網路設備、行動裝置、汽車電纜、高速資料互連,以及系統整合元件。 ...
2015 年 07 月 01 日

凌力爾特新款混頻器提升上變頻效能

凌力爾特(Linear)推出主動雙平衡上變頻混頻器–LTC5576。該元件具有寬廣的射頻(RF)頻率範圍,可從3GHz延伸至8GHz,並以25dBm OIP3的較佳線性度及2dB@8GHz轉換損耗強化微波發射器和上變頻性能,相較具有8dB損耗的替代性被動混頻器,該元件提供較佳輸出訊號品質。此外,LO輸入的內建緩衝器只需要0dBm的位準驅動,可有效消除外部放大器電路。該元件採用獨特的整合式RF...
2015 年 06 月 08 日

卡位智慧車市 次世代駕駛資訊平台研發聯盟成軍

因應智慧汽車發展趨勢,揚明光學、帷享科技等台灣汽車電子開發商,日前成立次世代駕駛資訊平台研發聯盟,將與車輛研究測試中心和德州儀器(TI)展開技術合作,共同研發新一代抬頭顯示、3D影像安全及數位3D儀表等駕駛資訊系統,打造嶄新座艙體驗。
2015 年 05 月 28 日

IDT/EPC攜手研發GaN 探索無線充電/射頻新應用

IDT/宜普電源轉換公司(EPC)將同共拓展氮化鎵(GaN)新商機。兩間公司將聯手發展氮化鎵技術,並結合EPC的eGaN技術和IDT的解決方案,以將氮化鎵技術拓展至無線充電、射頻(RF)和通訊等創新應用領域。 ...
2015 年 05 月 28 日

R&S新軟體加速射頻前端模組自動化測試

羅德史瓦茲(R&S)推出全新軟體–ZNrun,其可加速射頻(RF)前端模組自動化測試,適用於快速大量的生產環境,搭配網路分析儀(VNA),將加速多埠待測物(DUT)的測試效率。 ...
2015 年 05 月 04 日