精準揪出製程缺陷 奈米電性量測明察秋毫

各國大廠近年致力挑戰3奈米、2奈米微縮角力戰,製程技術是一場永無止境的競爭。當研發遇上瓶頸時,無論是IC設計、晶圓製造、測試、封裝等,都需要故障分析輔助來釐清問題所在。 而先進製程中的故障分析,對於研發與產能來說更是至關重大,但元件尺寸越做越小,如何在僅有數奈米的微小尺度下,進行電晶體的特性量測以及缺陷處定位則成為了一大難題。...
2023 年 01 月 26 日

勀傑12/9舉行SEM分析技術與應用研討會

2022年12月09日在高雄中山大學,勀傑科技將聯手國立中山大學材料與光電科學學系、卡爾蔡司帶來SEM微觀力量的知識聖堂。從落地式SEM到近年來越來越夯的桌上型SEM,帶領與會者全面瞭解如何應用掃描式電子顯微鏡獲得高品質的電子成像,並提升研究研發成果。...
2022 年 12 月 06 日

發掘製程可疑缺陷 IC切片把關樣品功能性測試

IC設計後,在進行後續的樣品功能性測試、可靠度測試(Reliability Test)或故障分析除錯(Failure Analysis & Debug)前,必須針對待測樣品做樣品製備前處理(Sample...
2022 年 09 月 26 日

虎談真諦-搜尋引擎優化

不久前在一場專題演講之後,有人走向前問我:「請問關鍵字廣告,到底值不值得去做,我們公司做了半年,感覺沒有什麼成效吔。」這是個好問題,也是一個大問題,當下我沒有辦法仔細的說明,但是也不能武斷的,使用值得或不值得的二分法來回答,我只能說:「還是可以去做,但是要先看看公司的需要…」
2022 年 02 月 03 日

量測/鑑定五時機精準判定 善用表面分析尋找製程缺陷

半導體生產過程中,難免會產生汙染,常見的微粒異物很容易被光學或電子顯微鏡檢測出,然而有一類異常汙染卻是無法被發現的,例如表面氧化或微蝕的殘留汙染,近數奈米如幾個原子層的厚度,相較於原本固體材料又是不同的性質,使用一般光學或電子顯微鏡觀察根本無法鑑別,這樣的汙染層可能導致後續的鍍膜脫層,封裝的打線或植球脫球,甚至影響電性的阻值偏高、或電性不良等異常失效的現象。這些肉眼或顯微鏡看不到的異物需要藉由表面分析的儀器尋找解答。
2021 年 09 月 04 日

勀傑電子顯微鏡新操作介面打破觀測分析藩籬

Thermofisher Scientific於2020年7月發表新一代Phenom ProX G6桌上型掃描式電子顯微鏡,針對規格與軟體進行大幅度升級。將SEM放大倍率提高到350,000x,並且突破性的將SEM與EDS整合至一個24吋全螢幕操作介面,點擊滑鼠進行觀測分析一次完成。此次全新發明Live...
2020 年 09 月 23 日

愛德萬將於韓國SEMICON展示最新方案

半導體測試設備領導廠商愛德萬測試將於南韓首爾市國際會展中心所舉辦的SEMICON國際半導體展上,展示該公司多種先進的IC測試及晶圓檢測解決方案。 愛德萬測試專心致力於協助客戶量測互聯網的世界與探究其中奧秘,以及所有加速5G技術發展的事物。該公司的產品組合不僅深受韓國客戶的肯定,更是為了符合全球5G通訊市場的需求所設計。...
2019 年 01 月 25 日