愛德萬發表最新缺陷檢測掃瞄電子顯微鏡

愛德萬測試(Advantest Corporation)發表E5620缺陷檢測掃瞄電子顯微鏡(Defect Review Scanning Electron Microscope, DR-SEM),E5620...
2022 年 12 月 14 日

愛德萬丸山利雄榮獲SEMI行銷卓越獎

愛德萬測試宣布,其資深執行顧問丸山利雄(Toshio Maruyama),榮獲2017年國際半導體設備與材料產業協會(SEMI)銷售與行銷卓越獎。SEMI銷售與行銷卓越獎於2000年成立,目的是為了肯定業界有志之士,他們所創造及/或推行的行銷方案不僅改善客戶滿意度,更有助半導體設備與材料產業的發展。 ...
2016 年 12 月 29 日